 新闻中心产品分类 友情链接 |
|
| 图片 |
标 题 |
更新时间 |
 |
VIEW Pinnacle+ Plus好精度的尺寸测量系统
Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件，使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.好的线性马达控制技术造就了运行速度快,可靠的
|
2025-06-20 |
 |
VIEW BenchMark 450进口影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数 XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米Z精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测量范围18 X18X6450x
|
2025-06-20 |
 |
VIEW BenchMark 250影像测量仪
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米需高分辨率光栅尺) Z 精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米TTL激光和
|
2025-06-20 |
|
